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應用專欄?

突破電子顯微鏡成像瓶頸—新SC24 Plus全面監(jiān)控多種環(huán)境干擾、消除EMI問題

突破電子顯微鏡成像瓶頸—新SC24 Plus全面監(jiān)控多種環(huán)境干擾、消除EMI問題

在半導體產業(yè)中,電子顯微鏡是品質控管(Quality Control,簡稱QC)的重要工具,工程師們透過電子顯微鏡對晶片做微觀結構分析,找出可能存在的問題與缺陷,以優(yōu)化產品制程。隨著微電子元件、微控制器的「微」時代來臨,半導體制程需要更高倍率、更高解析的成像品質。然而,來自于外部環(huán)境的眾多干擾,讓高解析度成為一項挑戰(zhàn)。

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