產(chǎn)品特點(diǎn)：
●帶針狀樣品的雙傾斜透射電鏡桿
●變換角度時尖端保持在中心位置
●即使在UHR模式也可以進(jìn)行斷層掃描
雙傾斜探針樣品桿EN Holder實(shí)際運(yùn)作示意
Example of sample preparation method with FIB by our STUB
(1) 將用 FIB 切出的部分放在針上 (2) 拆下STUB Pin，重新固定到旋轉(zhuǎn)90度的位置 (3) 用 FIB 完成樣品部分
Mel-Build 雙傾斜探針TEM樣品桿