●奈米級(jí)拉伸測(cè)試,最小單位 1nm/step●搭配不同機(jī)型前端樣品座,即可切換至不同儀器上觀測(cè)使用●依照客戶應(yīng)用搭配專(zhuān)門(mén)的樣品桿(高分子應(yīng)用/材料科學(xué)應(yīng)用)●快速安裝至FIB或切片機(jī)功能